分辨率测试卡定制厂家
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正弦西门子星更新：2012-12-15 浏览：对比双曲锲形位置变化不是很敏感。允许测量各个角度的高分辨率，包括垂直、水平、矢状面和切向面。 在线客服
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产品介绍
允许从任何点在这个圆的周长上多个目标的MTF测量样品。
分辨率测量可以用Imatest的星图模块进行。
不如Edge-SFR分析有些图形理敏感。
可以改善一些测量重复性噪音。
比较低对比度垂直+水平倾斜的边缘。
对比双曲锲形位置变化不是很敏感。
允许测量各个角度的高分辨率，包括垂直、水平、矢状面和切向面。
自动检测登记标志图案。
尺寸
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产品咨询